SSD日本shishido-衰减测定器

SSD日本shishido-衰减测定器

适用于测量薄膜、平板、线、布、地毯、玻璃等不同材料的静电耗散性的静电衰减测定器。

是一款适合于检测材料的静电扩散性的静电衰减测定器,将由电晕放电生成的空气离子对试样进行照射使其带电,测量停止空气离子照射后的电荷衰减曲线。

• 本装置符合织物及针织品的带电性试验方法JIS L1094-1980的半衰期测定器标准。(测头高度15mm时)

• 试样的带电方法采用由电晕放电生成的空气离子进行照射的方法,通过选择电晕放电的极性和外加电压既可使试样带正电也可使试样带负电,还可改变电压值。

• 薄膜、板、线、布、地毯、玻璃等,只要是薄板状的试样都能测定。

SSD日本shishido-衰减测定器

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• 型号	H-0110
  输入电源	AC100 V±10%(50/60 Hz)
  容量	100 VA
  高压电源输出	HV(电晕放电外加电压) 0~10 kV CAL(校正用外加电压) 0~3 kW
  工作温度范围	0～40 °C
  工作湿度范围	20~90%RH 不结露
  容许环境温度	0～40 °C
  输出信号	ANALYZER用端子　分析器用 SYNC端子　示波器用 电压　0~±10V 精度　约10%
  主体尺寸	420x450x280 mm(WxHxD)
  重量	约33 kg
  附件	电源电缆1根、信号电缆1根、 校正用器具&平衡器1套、六角扳手2个、保险丝2A 3个

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